运算电容式传感器用于铝氧化膜厚度测试的研究
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


The Research on Operational Capacitive Transducers for Measuring the Aluminium Oxidic Film
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    本文通过对运算电容式传感器及铝氧化膜厚度测试的实验研究,分析了影响测试精度的主要因素,并给出了校正方法和实用测量模型。

    Abstract:

    The present paper Js intended to analyze the operationol capacitive transducer for measuring the thickness of aluminium exidic film. Based on the principle of capacitive transducer measurement, a practical film thickness measuring model is offered.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

张奇生,张仁杰.运算电容式传感器用于铝氧化膜厚度测试的研究[J].上海理工大学学报,1989,(4).

复制
分享
相关视频

文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码