稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论

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稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论
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作者:
                        
                        
                    
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中图分类号:TH741.1
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在经典Ｍｉｅ散射理论基础上，讨论全方位稳态光散射法激光测粒仪测量粒径的下限及其影响因素，认为通过减小激光测粒仪的系统误差和增大探测的散射角范围，可降低测粒仪的测量下降。

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引用本文

沈建琪王乃宁.稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论[J].上海理工大学学报,1998,(2):130-134.

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